自學(xué)考試《實(shí)驗(yàn)室管理學(xué)》專項(xiàng)復(fù)習(xí)題：單選101-200

　　101. 13S指的是表示存在隨機(jī)誤差(B) (中)

　　A、 同批兩個(gè)質(zhì)控結(jié)果之差值超過4s，即一個(gè)質(zhì)控結(jié)果超過��+2s，另一質(zhì)控結(jié)果超過�� -2s

　　B、 一個(gè)質(zhì)控結(jié)果超過�啊�3s，為違背此規(guī)則，提示存在隨機(jī)誤差

　　C、 兩個(gè)連續(xù)質(zhì)控結(jié)果同時(shí)超過��+2s 或��- 2s，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差

　　D、 一個(gè)質(zhì)控品連續(xù)的四次測定結(jié)果都超過��+1s或��- 1s，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差

　　E、 十個(gè)連續(xù)的質(zhì)控結(jié)果在平均數(shù)一側(cè)，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差

　　102.R4S指的是(A) (易)

　　A、 同批兩個(gè)質(zhì)控結(jié)果之差值超過4s，即一個(gè)質(zhì)控結(jié)果超過��+2s，另一質(zhì)控結(jié)果超過��- 2s，表示存在隨 機(jī)誤差

　　B、一個(gè)質(zhì)控結(jié)果超過X±3S，為違背此規(guī)則，提示存在隨機(jī)誤差

　　C、 兩個(gè)連續(xù)質(zhì)控結(jié)果同時(shí)超過��+2s或�� - 2s，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差

　　D、 一個(gè)質(zhì)控品連續(xù)的四次測定結(jié)果都超過��+1s或��- 1s，兩個(gè)質(zhì)控品連續(xù)兩次測定都超過��+1s或��-1s，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差

　　E、 十個(gè)連續(xù)的質(zhì)控結(jié)果在平均數(shù)一側(cè)，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差

　　103.22S指的是(C)(難)

　　A、 同批兩個(gè)質(zhì)控結(jié)果之差值超過4s，即一個(gè)質(zhì)控結(jié)果超過��+2s，另一質(zhì)控結(jié)果超過��- 2s，表示存在隨機(jī)誤差

　　B、 一個(gè)質(zhì)控結(jié)果超過�啊�3s，為違背此規(guī)則，提示存在隨機(jī)誤差

　　C、 兩個(gè)連續(xù)質(zhì)控結(jié)果同時(shí)超過��+2s或�� - 2s，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差

　　D、 一個(gè)質(zhì)控品連續(xù)的四次測定結(jié)果都超過�笆�1s或��- 1s，兩個(gè)質(zhì)控品連續(xù)兩次測定都超過X+1s或X -1s，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差

　　E、 10個(gè)連續(xù)的質(zhì)控結(jié)果在平均數(shù)一側(cè)，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差

　　104.41S指的是(D) (中)

　　A、 同批兩個(gè)質(zhì)控結(jié)果之差值超過4s，即一個(gè)質(zhì)控結(jié)果超過�笆�2s，另一質(zhì)控結(jié)果超過��- 2s，表示存在隨機(jī)誤差

　　B、一個(gè)質(zhì)控結(jié)果超過X±3s，為違背此規(guī)則，提示存在隨機(jī)誤差

　　C、 兩個(gè)連續(xù)質(zhì)控結(jié)果同時(shí)超過��+2s 或��- 2s，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差

　　D、 一個(gè)質(zhì)控品連續(xù)的四次測定結(jié)果都超過��+1s或��- 1s，兩個(gè)質(zhì)控品連續(xù)兩次測定都超過��+1s或�耙�1s，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差

　　E、 十個(gè)連續(xù)的質(zhì)控結(jié)果在平均數(shù)一側(cè)，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差

　　105.10X指的是(E) (難)

　　A、 同批兩個(gè)質(zhì)控結(jié)果之差值超過4s，即一個(gè)質(zhì)控結(jié)果超過�笆�2s，另一質(zhì)控結(jié)果超過�� - 2s，表示存在隨機(jī)誤差

　　B、 一個(gè)質(zhì)控結(jié)果超過�啊�3s，為違背此規(guī)則，提示存在隨機(jī)誤差

　　C、 兩個(gè)連續(xù)質(zhì)控結(jié)果同時(shí)超過��+2s或�� - 2s，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差

　　D、 一個(gè)質(zhì)控品連續(xù)的四次測定結(jié)果都超過�笆�1s或��- 1s，兩個(gè)質(zhì)控品連續(xù)兩次測定都超過��+1s或��-1s，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差

　　E、 10個(gè)連續(xù)的質(zhì)控結(jié)果在平均數(shù)一側(cè)，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差

　　106.Levey--Jennings質(zhì)控圖中中心線為(A) (難)

　　A、 �熬�

　　B、 �啊纒線

　　C、 �啊�2s線

　　D、 �啊�3s線

　　E、 �啊�4s線

　　107.LeveyˉJennings質(zhì)控圖中警告線為(C) (中)

　　A、 �熬�

　　B、 �啊纒線

　　C、 �啊�2s線

　　D、 �啊�3s線

　　E、 �啊�4s線

　　108.LeveyˉJennings質(zhì)控圖中常用的失控線為(D) (中)

　　A、 �熬�

　　B、 �啊纒線

　　C、 �啊�2s線

　　D、 �啊�3s線

　　E、 �啊�4s線

　　109.41S規(guī)則的控制界限是(B) (難)

　　A、�熬�

　　B、�啊纒線

　　C、�啊�2s線

　　D、�啊�3s線 `

　　E、�啊�4s線

　　110.R4S規(guī)則的控制界限是(C) (易)

　　A、 �熬�

　　B、 �啊纒線

　　C、 �啊�2s線

　　D、 �啊�3s線

　　E、 �啊�4s線

　　111.(2of3)2S規(guī)則的控制界限為(C) (難)

　　A、 �熬�

　　B、 �啊纒線

　　C、 �啊�2s線

　　D、 �啊�3s線

　　E、 �啊�4s線

　　112.在臨床檢驗(yàn)質(zhì)量控制中，其敏感度的指標(biāo)是(B) (中)

　　A、 假失控概率

　　B、 誤差檢出概率

　　C、 在控預(yù)測值

　　D、 失控預(yù)測值

　　E、 失控效率

　　113.在臨床檢驗(yàn)質(zhì)量控制中，其特異度的指標(biāo)是(A) (難)

　　A、 假失控概率

　　B、 誤差檢出概率

　　C、 在控預(yù)測值

　　D、 失控預(yù)測值

　　E、 失控效率

　　114.誤差檢出概率指的是(B) (中)

　　A、 假失控批數(shù)/(假失控批數(shù)十真在控批數(shù))×100%

　　B、 真失控批數(shù)/真失控批數(shù)十假在控批數(shù))×100%

　　C、 真失控批數(shù)/(真失控批數(shù)十假失控批數(shù))x 100%

　　D、 假在控批數(shù)/(真在控批數(shù)十假在控批數(shù))×100%

　　E、 真在控批數(shù)/(真在控批數(shù)十假在控批數(shù))×100%

　　115.假失控概率指的是(A) (難)

　　A、 假失控批數(shù)/(假失控批數(shù)十真在控批數(shù))×100%

　　B、 真失控批數(shù)/真失控批數(shù)十假在控批數(shù))×100%

　　C、 真失控批數(shù)/(真失控批數(shù)十假失控批數(shù))×100%

　　D、 假在控批數(shù)/(真在控批數(shù)十假在控批數(shù))×100%

　　E、 真在控批數(shù)/(真在控批數(shù)十假在控批數(shù))×100%