溫度測量法
★★★(一)測溫儀表
接觸式測溫裝置：測溫元件與被測對象直接接觸，通過熱交換進(jìn)行測溫。
1.熱電偶。熱電偶與后續(xù)儀表配套可以直接測量出0°C～1800°C范圍內(nèi)液體、氣體內(nèi)部以及固體表面的溫度。精度高，測量范圍寬，便于遠(yuǎn)距離和多點(diǎn)測量等優(yōu)點(diǎn)。
熱電偶是基于熱電效應(yīng)進(jìn)行測量的。
【注意】鎢錸系熱電偶長期使用的最高溫度達(dá)2800°C，短時間使用可達(dá)3000°C;鎳鉻—金鐵熱電偶在4K溫度下也能保持大于10μV/°C的熱電勢率，是一種理想的低溫?zé)犭娕肌?/P>
2.熱電阻溫度計：熱電阻溫度計利用材料的電阻率隨溫度變化而變化的特性，與電橋相配合，將溫度按一定函數(shù)關(guān)系轉(zhuǎn)換為電量。
按敏感材料的不同，有金屬熱電阻溫度計和半導(dǎo)體熱電阻溫度計兩種。
3.紅外測溫儀器
紅外測溫儀器是利用紅外輻射原理，采用非接觸方式。核心是紅外探測器，它能把紅外輻射能轉(zhuǎn)變?yōu)殡娔堋?/P>
常用的紅外測溫儀器有：
(1)紅外測溫儀：是紅外測溫儀器中最簡單的一種。品種多、用途廣泛、價格低廉，用于測量物體“點(diǎn)”的溫度。
(2)紅外熱像儀。它能把被測物體發(fā)出的紅外輻射轉(zhuǎn)換成可見圖像，這種圖像稱為熱像圖或溫度圖。
(二)通過測溫測量所能發(fā)現(xiàn)的常見故障
軸承損壞、流體系統(tǒng)故障、發(fā)熱量異常、污染物質(zhì)積聚、保溫材料損壞、電器元件故障、非金屬部件的故障、機(jī)件內(nèi)部缺陷、裂紋探測等。
★★★★四、裂紋的無損探傷法
(一)目視——光學(xué)檢測法
對于封閉結(jié)構(gòu)內(nèi)部不能直接觀察的零件，主要使用工業(yè)內(nèi)窺鏡進(jìn)行目視——光學(xué)檢測。
(二)滲透探測法
使著色滲透液或熒光滲透液滲入機(jī)件表面開口的裂紋內(nèi)，然后清除表面的殘液，用吸附劑吸出裂紋內(nèi)的滲透液，從而顯示出缺陷圖像的一種檢驗(yàn)方法。不能檢驗(yàn)內(nèi)部缺陷。
(三)磁粉探測法
探測法可以發(fā)現(xiàn)鐵磁材料表面和近表面的裂紋，以及氣孔、夾雜等缺陷。其缺點(diǎn)是這種探測法不能探測缺陷的深度。
(四)射線探測法：χ射線和γ射線。
主要用來探測機(jī)件內(nèi)部的氣孔、夾渣、鑄造孔洞等立體缺陷，當(dāng)裂紋方向與射線平行時也能被探測出來。缺點(diǎn)是，當(dāng)裂紋面與射線近于垂直時就難以探測出來，對微小裂紋的探測靈敏度低，探測費(fèi)用較高，射線對人體有害。
(五)超聲波探測法。
可以探測垂直于超聲波的金屬和非金屬材料的平面狀缺陷。
可探測的厚度大、檢測靈敏度高。缺點(diǎn)是探測時有一定的近場盲區(qū)、探測結(jié)果不能記錄、探測中采用的耦合劑易污染產(chǎn)品等。
(六)聲發(fā)射探測法。
動態(tài)檢測、在加載或運(yùn)行狀態(tài)下進(jìn)行;裂紋主動參與，提供裂紋活動的信息;靈敏度高、覆蓋面大、不會漏檢;但是，不能反應(yīng)靜態(tài)缺陷情況。
(七)渦流探測法。
適用于導(dǎo)電材料表面或近表面探傷;靈敏度高，可自動顯示報警;非接觸式，可用于高溫測量;可用于顯示、記錄和報警，并可估算缺陷的位置和大小。
不足：深層缺陷難以探測、影響因素多、存在邊界效應(yīng)。
★★★五、磨損的油液污染檢測法
(一)油液光譜分析法：光譜分析法對分析油液中有色金屬磨損產(chǎn)物比較適用。用于早期、精密的磨損診斷。
(二)油液鐵譜分析法：油液鐵譜分析能提供磨損產(chǎn)物的數(shù)量、粒度、形態(tài)和成分四種參數(shù)，通過研究即可掌握有關(guān)的磨損情況。
(三)磁塞檢查法：用肉眼直接觀察，用于檢查磨損后期磨粒尺寸大于70μm的情況。
，我們將會及時處理。