內(nèi)存檢測(cè)失敗導(dǎo)致不能啟動(dòng)
問(wèn):我的計(jì)算機(jī)使用兩條現(xiàn)代256MB DDR的內(nèi)存,使用了一年多一直正常,但現(xiàn)在出現(xiàn)了故障,開(kāi)機(jī)時(shí)提示“Memory test fail”,計(jì)算機(jī)不能啟動(dòng),請(qǐng)問(wèn)該如何解決?
答:這種故障是因?yàn)橛?jì)算機(jī)在啟動(dòng)時(shí)檢測(cè)內(nèi)存失敗,導(dǎo)致計(jì)算機(jī)不能啟動(dòng)。導(dǎo)致計(jì)算機(jī)檢測(cè)內(nèi)存失敗的原因有很多,比如內(nèi)存與插槽接觸不良、內(nèi)存“金手指”氧化斷裂、內(nèi)存芯片損壞、內(nèi)存插槽損壞等。要解決這種故障,首先打開(kāi)機(jī)箱拔下內(nèi)存,再重新插緊、插好,開(kāi)機(jī)檢查計(jì)算機(jī)能否啟動(dòng);若故障仍存在,就要檢查“金手指”是否被氧化、內(nèi)存條是否斷裂損壞,并仔細(xì)查看內(nèi)存插槽內(nèi)的針是否有損壞等,并用一塊干凈的橡皮將“金手指”上的氧化物、污物擦干凈,重新插到內(nèi)存插槽上,再開(kāi)機(jī)看能否啟動(dòng);若仍不能解決,可分別只使用一根內(nèi)存啟動(dòng),并嘗試分別插在不同DIMM插槽上看看是否能啟動(dòng),分批檢測(cè)來(lái)找出有故障的內(nèi)存或內(nèi)存插槽。
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