华南俳烁实业有限公司

　　單元測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試的側(cè)重點(diǎn)是什么?

　　單元測(cè)試是在軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程中要進(jìn)行的最低級(jí)別的測(cè)試活動(dòng)，在單元測(cè)試活動(dòng)中，軟件的獨(dú)立單元將在與程序的其他部分相隔離的情況下進(jìn)行測(cè)試。

　　集成測(cè)試，也叫組裝測(cè)試或聯(lián)合測(cè)試。在單元測(cè)試的基礎(chǔ)上，將所有模塊按照設(shè)計(jì)要求，組裝成為子系統(tǒng)或系統(tǒng)，進(jìn)行集成測(cè)試。實(shí)踐表明，一些模塊雖然能夠單獨(dú)地工作，但并不能保證連接起來(lái)也能正常的工作。程序在某些局部反映不出來(lái)的問(wèn)題，在全局上很可能暴露出來(lái)，影響功能的實(shí)現(xiàn)。

　　系統(tǒng)測(cè)試是將經(jīng)過(guò)測(cè)試的子系統(tǒng)裝配成一個(gè)完整系統(tǒng)來(lái)測(cè)試。它是檢驗(yàn)系統(tǒng)是否確實(shí)能提供系統(tǒng)方案說(shuō)明書中指定功能的有效方法。

　　設(shè)計(jì)用例的方法、依據(jù)有那些?

　　白盒測(cè)試：邏輯覆蓋法，主要包括語(yǔ)句覆蓋，判斷覆蓋，條件覆蓋，判斷-條件覆蓋，路徑覆蓋

　　黑盒測(cè)試：等價(jià)劃分類，邊界值分析，錯(cuò)誤推測(cè)法。

　　集成測(cè)試通常都有那些策略?

　　1、在把各個(gè)模塊連接起來(lái)的時(shí)候，穿越模塊接口的數(shù)據(jù)是否會(huì)丟失;

　　2、各個(gè)子功能組合起來(lái)，能否達(dá)到預(yù)期要求的父功能;

　　3、一個(gè)模塊的功能是否會(huì)對(duì)另一個(gè)模塊的功能產(chǎn)生不利的影響;

　　4、全局?jǐn)?shù)據(jù)結(jié)構(gòu)是否有問(wèn)題;

　　5、單個(gè)模塊的誤差積累起來(lái)，是否會(huì)放大，從而達(dá)到不可接受的程度。

　　一個(gè)缺陷測(cè)試報(bào)告的組成

　　缺陷的標(biāo)題，缺陷的基本信息，復(fù)現(xiàn)缺陷的操作步驟，缺陷的實(shí)際結(jié)果描述，期望的正確結(jié)果描述，注釋文字和截取的缺陷圖象。