技術(shù)測(cè)量的要求

　　(一)測(cè)量過(guò)程包括測(cè)量對(duì)象、計(jì)量單位、測(cè)量方法和測(cè)量精度等四個(gè)要素。

　　1、測(cè)量對(duì)象：主要指幾何量包括長(zhǎng)度、角度、表面粗糙度、形位。

　　2、計(jì)量單位：根據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。

　　3、測(cè)量方法：測(cè)量時(shí)所采用的計(jì)量器具和測(cè)量條件的綜合。

　　4、測(cè)量精度：測(cè)量結(jié)果與真值的接近程度。

　　(二)測(cè)量方法分類：

　　1、 按是否直接量出所需的量值，分為直接測(cè)量和間接測(cè)量。

　　2、 按測(cè)量時(shí)是否與標(biāo)準(zhǔn)器具比較可分為絕對(duì)測(cè)量和相對(duì)測(cè)量。如測(cè)長(zhǎng)儀測(cè)直徑。

　　3、 按零件被測(cè)參數(shù)的多少，可分為單項(xiàng)測(cè)量和綜合測(cè)量。

　　4、 按被測(cè)零件表面是否與測(cè)量頭接觸，分為接觸測(cè)量和非接觸測(cè)量。

　　5、 按測(cè)量技術(shù)在機(jī)械制造工藝過(guò)程中所起的作用，分為主動(dòng)測(cè)量和被動(dòng)測(cè)量。

　　6、 按被測(cè)零件在測(cè)量過(guò)程中所處的狀態(tài)分為靜態(tài)測(cè)量和動(dòng)態(tài)測(cè)量。

　　(三)配合的制度和種類——兩種制度、三種配合

　　標(biāo)準(zhǔn)公差等于公差等級(jí)乘以公差單位

　　1、配合制度——兩種制度

　　基孔制——是指偏差為一定的孔的公差帶，與不同基本偏差的軸的公差帶形成的配合。

　　基軸制——是指偏差為一定的軸的公差帶，與不同基本偏差的孔的公差帶形成的配合。

　　2、配合的種類——在軸孔配合中，配合公差越大配合精度越低，反之則越高。

　　(1)間隙配合——在軸孔配合中，孔的尺寸減去軸的尺寸，差值總為正。

　　(2)過(guò)盈配合——在軸孔配合中，軸的尺寸減去孔的尺寸，差值總為負(fù)。

　　(3)過(guò)度配合——在軸孔配合中，孔的尺寸減去軸的尺寸，差值總可能為正也可能為負(fù)。